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X熒光光譜儀在ROHS檢測中的優劣勢
發布時間:2021-08-16 點擊:1308

近年來,由于人們的環保意識不斷提高,電子電氣產品引發的環境污染問題也備受關注。而怎么檢測出電子電氣產品上受限制的有害物質,也是人們要了解的問題。創想X熒光光譜儀可以很好的檢測出鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多嗅聯苯醚這6種限制物質,但是有許多用戶都不太清楚這款儀器是基于怎么樣的原理來完成的,今天在這里,就要為大家介紹X熒光光譜儀在ROHS檢測中的優缺點。

X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。
X射線管X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量,然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

下面讓我們來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優缺點都有哪些?
XRF-X射線熒光光譜儀的優點主要有六個組成部分,他們分別是:
1.分析速度高  
測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,60~200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。
2.X射線熒光光譜跟樣品化學結合狀態無關
X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。  
3.化學狀態的改變  
非破壞分析在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。  
4.物理分析法  
X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。  
5.分析準確度高。  
制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。  

而XRF-X射線熒光光譜儀的缺點卻只有三項,他們分別是:  
1. 難于作絕對分析,故定量分析需要標樣。 
2. 對輕元素的靈敏度要低一些。  
3.容易受相互元素干擾和疊加影響。

以上就是創想X熒光光譜儀在ROHS檢測應用中的優缺點,創想儀器作為一家具有自主知識產權的創新型高科技上市企業,精益求精,以優秀的產品、優質的服務滿足客戶需求。,以優秀的產品、優質的服務滿足客戶需求。

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